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线路板飞针测试的出现已经改变了低产量与快速转换(quick-turn装配产品的测试方法。以前需要几周时间开发的测试现在几个小时就可以了对于处在严重的时间到市场(time-to-market压力之下的电子制造服务(EMS,飞针”测试是测试的一些主要问题的最新解决方法。名称的出处是基于设备的功能性。ElectronManufacturServic提供商，这种后端能力大大地补偿了时间节省的前端技术与工艺，诸如连续流动制造和刚好准时的just-in-tim物流。
取决于互连技术与板的密度。顾客经常愿意对这种表示额外多付出一点。可是当线路板已经装配但不能在可接受的时间框架内测试，快速转换生产的有利之事是线路板可以在各种环境下快速装配。不愿意付出拖延的价格。不可接受的测试时间框架延误最终发货有两个理由。一个理由是缺乏灵活的硬件；第二个是给定产品上所花的测试开发时间。
不愿意承担快速转换(fast-turn装配的费用。具有快速转换服务的EMS但是不能在OEM时间框架内出货的一定要寻找一个解决方案。许多原设备制造商(OEM做激进上一样快并没有价格惩办的电路板时。 飞针测试是一个无价的生产资源。还有，因为具有紧密接触屏蔽的UUT能力和帮助更快到达市场(time-to-market能力。由于不需要有经验的测试开发工程师，该系统可认为是节省人力的具有附加价值和时间节省等好处的设备。 对GenRadGRPILOT系统，编程飞针测试机比传统的ICT系统更容易、更快捷。例如。测试开发员将设计线路板工程师的CA D数据转换成可使用的文件，这个过程需要1-4个小时。然后该新的文件通过测试顺序运行，发生一个 .IGE和 .SPC文件，再放入一个目录。然后软件运行在目录内发生需要测试UUT所有文件。短路的测试类型是从选项页面内选择。测试机在UUT上使用的参考点从CA D信息中选择。UUT放在平台上，固定。软件开发完成后，该程序被“拧进去”以保证选择到尽可能最佳的测试位置。这时加入各种元件“维护”元件测试隔离)一个典型的1000个节点的UUT测试开发所花的时间是4-6个小时。 开始典型的飞针测试过程的测试调试。调试是测试开发员接下来的工作，软件开发和装载完成以后。需要用来获得尽可能最佳的UUT测试覆盖。调试过程中，检查每个元件的上下测试极限，确认探针的接触位置和零件值。典型的1000个节点的UUT调试可能花 6-8小时。 使得UUT测试顺序开发对测试工程师的要求相当少。接到CA D数据和UUT准备好测试之间这段短时间，飞针测试机的开发容易和调试周期短。允许制造过程的最大数量的灵活性。相反，保守ICT编程与夹具开发可能需要160小时和调试 16-40小时。 能够在数小时内测试原型样机装配，由于具有编程容易。以及测试低产量的UUT而没有典型的夹具开发费用，飞针测试可解决生产环境中的许多问题。但是还不是所有的生产测试问题都可通过使用探针自动解决。 飞针测试有其缺点。因线路板为测试机物理接触通路孔和测试焊盘上的焊锡，和任何事情一样。可能在焊锡上留下小凹坑。对某些OEM客户，这些小凹坑可能认为外观缺陷，造成拒绝接收装配。因为有时在没有测试焊盘的地方探针会接触到元件引脚，所以可能会错过松脱或焊接不良的元件引脚。探针测试机还限制线路板的尺寸：16"x24" 飞针测试机可能花 8-10分钟。实物搬运是另一个缺点。针床测试机可使用顶面夹具同时测试双面线路板顶面与底面元件，飞针测试时间是另一个主要因素。一台典型的针床测试机可能花30秒测试UUT地方。而飞针测试机要求操作员测试一面，然后翻转再测试另一面。 飞针测试还是一个有价值的工具。优点包括：快速测试开发；较低利息测试方法；快速转换的灵活性；以及在原型阶段为设计人员提供快速的反馈。因此，尽管有些缺点。和传统的ICT比拟，飞针测试所要求的时间通过减少总的测试时间足以弥补。 装配过程中这样一个系统提供在接收到CA D文件只有几小时就可以开始生产。因此，使用飞针测试系统的好处大于缺点。例如。原型电路板在装配后数小时即可测试，不象ICT高成本的测试开发与夹具可能将过程延误几天，甚至几月。飞针测试系统也减少了新产品的第一篇文章”视觉检查时间，这一点是很重要的因为第一块板经常决定剩下的UUT测试特性。 由于设定、线路板编程和测试的简单与快速，除此之外。实际上非技术装配人员，而不是工程师，可用来操作测试。也存在灵活性，做到快速测试转换和过程错误的快速反馈。还有，因为夹具开发利息与飞针测试没有关系，所以它一个可以放在典型测试过程前面的低成本系统。并且因为飞针测试机改变了低产量和快速转换装配的测试方法，通常需要几周开发的测试现在数小时就可以得到 飞针测试可以通过消除激进测试夹具方法的需要，对EMS提供商。减少生产装配到达市场的时间。通过取消夹具，线路板飞针测试机消除了夹具硬件与软件开发的高成本。飞针测试不可能为EMS制造商消除所有的测试问题，但是对于原型装配的测试和减少从小批量到大批量(ramp-to-volum时间，一个非常好的方法。 |
